吉时利ACS测试系统将圆片级可靠性测试速度提高五倍 上网时间:2008年05月14日 美国吉时利(Keithley)仪器公司,日前宣布增强了其ACS(Automated Characterization Suite,自动特征分析套件)软件,纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的WLR(wafer level reliability,圆片级可靠性)备选测试工具。
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