Sagittarius-SPT系列 - 结合研究、特性分析与生产的多功能合一矽光子元件自动化测试系统nIoesmc
矽光子是一种颠覆性技术，将彻底改变如数据中心、高效能计算与数据传输等多项应用领域。矽光子是数个技术模块的整合，包括激光器、光学元件、MEMS 、高速数位与射频系统单晶片(SOCs)。如此复杂系统的测试，需要在精密机械、光学特性与射频测量等等领域，具备极高的整合专业知识。nIoesmc
随着制造厂、商业模组工具与光子测试性能组成的工业生态系统出现，光学集成电路科技与应用的进程正在加速。将光学测试由封装级，更将深入至晶圆级半导体进程，是确保效能与良率的重要步骤。nIoesmc
思达科技所开发的世界领先的商用自动测试系统Sagittarius-SPT，其先进仪器控制与为光学产业开发的测试方法，适用于此新产业。晶圆级测试的一项测试关键层面，是快速可重复性的光耦合，包括探针卡位置优化，以及偏振校准。nIoesmc
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图解: Sagittarius-SPT自动顺序测试采用具有PIN结构的矽线波导的可变光衰减器(VOA)nIoesmc
Sagittarius-SPT带来几项突破，包括在晶圆切割前，提供测试晶圆与元件的自动测试平台；具有传统DC与射频电子的晶圆探测功能，集成至光学测试范围等。思达已为光通讯元件分析仪(LCA)、光开关、可调镭射光源、光功率计等提供多种仪器驱动器，可以对可变光衰减器、光学调变器，与镭射光电二极管等等进行测试。nIoesmc
矽光子元件的自动化特性测试，使具有单个或多个输入、加上单个或多个输出的不同类型元件能够以纳米级精度自动对准。为了加速晶圆级测试的进程，思达开发了先进的自动化光纤校准系统和高级探针台，在矽光子元件测试时，使用先进校准技术，无须人工互动，即可按顺序方式移至下一个元件。nIoesmc
Sagittarius-SPT进一步使不同类型的矽光子元件，能以不同的方式测试光电直流，与动态高频性能。包含运用于自动晶圆装载与卸载的设备前端模组(EFEM)，使得Sagittarius-SPT成为应用于矽光子元件和集成电路的领先业界的量产制造测试系统，以最低的测试成本，为客户生产矽光子元件。思达科技今后也将为不同客户提供Sagittarius-SPT自动矽光子测试系统解决方案。nIoesmc
关于思达科技nIoesmc
思达科技（STAr Technologies）成立于2000年，专精于先进整合测试系统与高效能探针卡。所开发的整合测试系统已在全球安装超过一千套，其应用范围广泛，如SPICE建模、DC-RF元件特性、可靠度品质验证与矽光子测试等等。思达科技总部位于台湾新竹市，在美国、日本、韩国、新加坡、中国与印度设有分公司。请查询网站www.STAr-Quest.com。nIoesmc
