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MOSFET老化解决方案

研讨会介绍

本次网络研讨会将介绍由Synopsys和Keysight共同提供的MOSFET老化解决方案。

在介绍过程中涉及到以下主题:

  1. 老化模型概念及其开发
  2. 老化数据测量与模型参数提取
  3. 电路仿真中的老化分析

本次网络研讨会的解决方案优势:

  1. MOSRA API框架
  2. MOSRA对老化分析的全面支持
  3. MOSRA自动化参数提取流程
  4. 在片老化数据自动测试
演讲嘉宾
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申旭光
Synopsys 器件模型组研发主任工程师
旭光于2013年加入Synopsys,专注于在电路仿真领域MOS可靠性分析的研发和器件老化的解决方案。他所在的器件模型组所研发的MOS可靠性建模及仿真解决方案已经被全球范围内诸多处于领先地位的半导体晶圆制造厂商和设计公司所广泛采用。 旭光毕业于上海同济大学电气工程系,硕士学位。在加入新思科技之前,他作为软件工程师在惠普公司工作了5年。
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邓家媛
Keysight 器件模型应用开发工程师
邓女士于2012年加入安捷伦/是德科技器件模型部门,邓家媛在器件模型领域拥有超过10年的经验,并先后在技术支持,研发和市场部门负责器件模型软件的应用技术支持和开发。邓家媛毕业于北京大学微电子学系,并拥有ESIEE-Paris微电子系统硕士学位。
幸运礼物
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凡参与研讨会并积极提问的用户均有机会获得由Synopsys公司提供的
AirPods – 第三代(1个)

(奖品以实物为准,最终解释权归Synopsys所有。为确保您能收到获奖信息,请您及时更新个人信息!

公司介绍

新思科技(Synopsys, Inc., 纳斯达克股票代码:SNPS)是众多创新型公司的Silicon to Software™(“芯片到软件”)合作伙伴,这些公司致力于开发我们日常所依赖的电子产品和软件应用。作为一家被纳入标普500强( S&P 500 )的公司,新思科技长期以来一直处于全球电子设计自动化(EDA)和半导体IP产业的领先地位,并提供业界最广泛的应用程序安全测试工具和服务组合。无论您是创建先进半导体的片上系统(SoC)的设计人员,还是编写需要更高安全性和质量的应用程序的软件开发人员,新思科技都能够提供您的创新产品所需要的解决方案。

要获知更多信息,请访问 http://www.synopsys.com。

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